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Dr. JeongWon Kim

Division of Industrial Metrology

Korea Research Institute of Standards & Science
267 Gajeong-Ro

Daejeon 34113

Republic of Korea

Phone
Fax

+82-(0)42-868-5761

+82-(0)42-868-5032

2018

1. “Electronic Structure and Carrier Dynamics at Organic/organic or Organic/inorganic Semiconductor. 유기/유기 혹은 유기/무기 반도체 계면의 전자 구조와 전하 동역학임희선 (Ph.D.)

2017

1. “Surface and Interface Analysis of Thin-Film Photovoltaic Materials. 박막태양전지 재료의 계면 표면 특성 분석김태건 (Ph.D)

2016

1. “Fabrication and Surface Treatment of Two-dimensional Semiconductor Ultrathin Films. 이차원반도체 물질의 극박막 제조 표면처리서성원 (Master)

2011

1. “Hole injection enhancement by a WO3 lnterlayer in Inverted Organic Light-Emitting Diodes and Their Interfacial Electronic Structures. 유기발광 다이오드에서 WO3완충층의 정공주입 향상 효과와 계면의 전자 구조김윤학 (Master)

2009

1. "Interface electronic structures of organic light-emitting diodes with WO3 interlayer. WO3 층을 가진 유기발광다이오드의 계면전자구조에 관한 연구손민정 (link) : in English

2006

 1. "Electronic and structure properties at the interface between pentacene and polymer dielectrics. 펜타신과 고분자 유전체 사이의 계면에 관한 전자적 구조적 특성" 한승진 (link) : in Korean

2. "Time-resolved two-photon photoemission spectroscopy of Ag nanostructures. 은나노구조의 시간분해 이광자 광발광 분광" 이유홍 (link) : in Korean

 

전시 유성구 가정로 267 한국표준과학연구원 산업응용측정본부 나노구조측정센터

(313) B-16, Tel. 042-868-5977

대전시 유성구 가정로 217 과학기술연합대학원대학교 나노계측과학과

File last modified: Apr. 1, 2019